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Angewandte Oberflächenanalyse mit SIMS Sekundär-Ionen-Massenspektrometrie AES Auger-Elektronen-Spektrometrie XPS Röntgen-Photoelektronen-Spektrometrie (German Edition) – H. J. Dudek Maria F. Ebel M. Grasserbauer Es gibt etwas zu sagen für ein Buch, das genau…